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HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱適用于電池產(chǎn)品
簡(jiǎn)要描述:
HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱適用于電池產(chǎn)品 廣泛適用于IC、PCB、LCD Board、電池、電容、電阻,及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗(yàn), 比較傳統(tǒng)之恒溫恒濕設(shè)備85/85%R.H.試驗(yàn)時(shí), 可以節(jié)省大量時(shí)間, 當(dāng)測(cè)試溫度越高, 壓力越大,測(cè)試時(shí)間縮短越多, 在質(zhì)量檢驗(yàn)上大量節(jié)省電力, 人力, 物力, 提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力.
HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱適用于電池產(chǎn)品高壓加速老化試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格書(shū)
一、產(chǎn)品名稱高壓加速老化試驗(yàn)箱
二、產(chǎn)品型號(hào)AP-HAST-426
HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱適用于電池產(chǎn)品三、產(chǎn)品用途廣泛適用于IC、PCB、LCD Board、電池、電容、電阻,及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗(yàn), 比較傳統(tǒng)之恒溫恒濕設(shè)備85/85%R.H.試驗(yàn)時(shí), 可以節(jié)省大量時(shí)間, 當(dāng)測(cè)試溫度越高, 壓力越大,測(cè)試時(shí)間縮短越多, 在質(zhì)量檢驗(yàn)上大量節(jié)省電力, 人力, 物力, 提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力.有多種型號(hào)可選擇。
四、產(chǎn)品特點(diǎn)1.采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu),降低了使用故障率。
2.獨(dú)立蒸汽發(fā)生室,避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品,以免造成產(chǎn)品局部破壞。
3.門鎖電控制動(dòng)結(jié)構(gòu),解決一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。
a.獨(dú)特的無(wú)結(jié)露設(shè)計(jì)
b抽屜式滑動(dòng)托盤設(shè)計(jì)
c.飽和試驗(yàn)(STD)和不飽和試驗(yàn)(HUM)兩種試驗(yàn)?zāi)J?/p>
d.電子自動(dòng)門鎖緊結(jié)構(gòu)
e.多種排氣方式
f.可依據(jù)客戶需要,選配不同試驗(yàn)夾具
g.采用無(wú)風(fēng)扇內(nèi)部加熱循環(huán),確保長(zhǎng)期使用無(wú)集塵產(chǎn)生。
4.試驗(yàn)前排冷空氣;試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.
試驗(yàn)腔杜絕凝露結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),試驗(yàn)腔室干燥設(shè)計(jì)。
5.超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間,長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)999小時(shí).
6.水位保護(hù),透過(guò)試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).
7.耐壓設(shè)計(jì),箱體耐壓力(150℃)2.65kg,符合水壓測(cè)試6kg.
8.二段式壓力安全保護(hù)裝置,采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置
9.安全保護(hù)排壓鈕,警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕 .
10.常規(guī)配備20組偏壓測(cè)試端子,內(nèi)外3.0快插設(shè)計(jì)(可增容)
11.USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù),曲線.
五、性能參數(shù)
5.1.設(shè)定溫度+100 ℃ ~ +147 ℃( 蒸氣溫度 )
5.2.濕度范圍75~100 % 蒸氣濕度
5.3.濕度控制穩(wěn)定度±3%RH
5.4.使用壓力1.2~2.89kg(含1atm)
5.5.時(shí)間范圍0 Hr ~ 999 Hr
5.6.加壓時(shí)間0.00 Kg ~ 1.04 Kg / cm2 約 45 分
5.7.溫度波動(dòng)均勻度±0.5℃
5.8.溫度顯示精度0.1℃
5.9.壓力波動(dòng)均勻度±0.1Kg
5.10.濕度分布均度±3%RH
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